Inverted fractal analysis of TiOx thin layers grown by inverse pulsed laser deposition

Elmentve itt :
Bibliográfiai részletek
Szerzők: Égerházi László
Smausz Kolumbán Tomi
Bari Ferenc
Dokumentumtípus: Cikk
Megjelent: 2013
Sorozat:APPLIED SURFACE SCIENCE 278 No. 0
doi:10.1016/j.apsusc.2013.02.135

mtmt:2356333
Online Access:http://publicatio.bibl.u-szeged.hu/18190
Leíró adatok
Terjedelem/Fizikai jellemzők:106-110
ISSN:0169-4332