Thickness distribution of carbon nitride films grown by inverse pulsed laser deposition
Elmentve itt :
Szerzők: |
Égerházi László Geretovszky Zsolt Szörényi Tamás |
---|---|
Dokumentumtípus: | Cikk |
Megjelent: |
2005
|
Sorozat: | APPLIED SURFACE SCIENCE
247 |
doi: | 10.1016/j.apsusc.2005.01.041 |
mtmt: | 155819 |
Online Access: | http://publicatio.bibl.u-szeged.hu/18151 |
Hasonló tételek
-
Carbon nitride films of uniform thickness by inverse PLD
Szerző: Égerházi László, et al.
Megjelent: (2007) -
Atomic force microscopic characterization of films grown by inverse pulsed laser deposition
Szerző: Égerházi László, et al.
Megjelent: (2006) -
Homogeneous films by inverse pulsed laser deposition
Szerző: Égerházi László, et al.
Megjelent: (2011) -
Inverse pulsed laser deposition
Szerző: Égerházi László, et al.
Megjelent: (2008) -
Optical models for the ellipsometric characterization of carbon nitride layers prepared by inverse pulsed laser deposition
Szerző: Petrik Péter, et al.
Megjelent: (2006)