Tóth Z, Hanyecz I, Gárdián A, Budai J, Csontos J, Pápa Z, & Füle M. Ellipsometric analysis of KrF laser textured silicon surfaces.
Chicago Style (17th ed.) CitationTóth Z, Hanyecz I, Gárdián A, Budai J, Csontos J, Pápa Z, and Füle M. Ellipsometric Analysis of KrF Laser Textured Silicon Surfaces.
MLA idézésTóth Z, et al. Ellipsometric Analysis of KrF Laser Textured Silicon Surfaces.
Figyelem: ezek az hivatkozások nem 100%-ban pontosak..